图书介绍

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公差配合与技术测量
  • 曾秀云著 著
  • 出版社: 北京:机械工业出版社
  • ISBN:9787111312543
  • 出版时间:2010
  • 标注页数:163页
  • 文件大小:8MB
  • 文件页数:169页
  • 主题词:公差-配合-专业学校-教材;技术测量-专业学校-教材

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图书目录

绪论1

复习思考题3

第一章 尺寸公差与配合4

第一节 基本术语及其定义5

第二节 标准公差系列13

第三节 基本偏差系列16

第四节 基准制24

第五节 公差带与配合的选用30

本章小结35

复习思考题37

第二章 几何公差39

第一节 概述39

第二节 几何公差和公差带45

第三节 几何公差的标注55

第四节 公差原则60

第五节 几何公差的定义和解释67

本章小结91

复习思考题92

第三章 表面粗糙度96

第一节 表面粗糙度概述96

第二节 表面粗糙度的评定98

第三节 表面粗糙度符号、代号及标注104

第四节 表面粗糙度的应用及检测111

本章小结113

复习思考题114

第四章 技术测量115

第一节 技术测量的基础知识115

第二节 常用长度计量器具119

第三节 常用角度计量器具128

第四节 光滑工件尺寸的检测134

本章小结142

复习思考题143

附录146

附录A 轴的极限偏差146

附录B 孔的极限偏差155

参考文献163

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